透過型電子顕微鏡 / 透過型顕微鏡 / TEMとは

透過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）は、高い解像度を持つ顕微鏡の一種で、電子を試料に透過させてその構造を観察するために使用されます。透過型電子顕微鏡は、光学顕微鏡では見えないような非常に微細な構造や原子レベルの情報を得ることができます。この顕微鏡は、電子線を試料に照射し、試料を透過した電子を集めて画像を形成します。透過した電子の強度や方向を分析することで、試料の内部構造を非常に高精度で観察できます。

TEMは、特にナノテクノロジーや材料科学、生命科学、化学などの分野で広く使用されています。試料を薄く切る必要があるため、準備が難しく、専門的な知識と技術が求められますが、その解像度の高さから、細胞内の微細構造や物質の原子配列の詳細な情報を得ることができます。

透過型電子顕微鏡の解像度は、光学顕微鏡と比較して桁違いに高く、原子の配置や結晶構造の観察が可能です。このため、非常に小さな欠陥や異常を発見することができ、科学研究や産業用途で重要な役割を果たしています。

透過型電子顕微鏡 / 透過型顕微鏡 / TEMの使用用途

✅ナノテクノロジーの研究
透過型電子顕微鏡は、ナノスケールでの材料の構造を観察するために使用されます。例えば、ナノ粒子のサイズや形状、内部構造を高解像度で確認できます。
✅生物学的試料の観察
細胞の内部構造やウイルスの形態などを詳細に観察するためにTEMが使用されます。これにより、病原菌やウイルスの研究が進展しました。
✅半導体材料の検査
透過型電子顕微鏡は、半導体の微細構造や欠陥を調査するために重要です。集積回路やデバイスの製造過程での精密な検査に利用されます。
✅結晶構造の解析
TEMを用いて、結晶内の原子配置や格子欠陥などを調べることができます。これにより、材料の強度や性質を向上させるための研究が進んでいます。

※一部商社などの取扱い企業も含みます。