原子間力顕微鏡 / AFM Atomic Force Microscopeとは

原子間力顕微鏡（AFM: Atomic Force Microscope）は、原子スケールでの表面観察や測定が可能な高精度な顕微鏡です。AFMは、探針（プローブ）が試料表面をスキャンし、原子間力を検出することで、表面の形状や特性を3Dで再現します。光学顕微鏡や電子顕微鏡とは異なり、試料の導電性に依存しないため、金属、半導体、絶縁体など幅広い材料に適用可能です。

AFMの特長は、ナノメートルレベルの解像度と多機能性です。観察だけでなく、力学的特性や化学特性の分析、さらには表面操作まで可能です。そのため、半導体研究、生物医学、材料科学など、多岐にわたる分野で利用されています。

原子間力顕微鏡 / AFM Atomic Force Microscopeの使用用途

✅半導体デバイスの表面評価
ナノスケールでのトランジスタや回路表面の凹凸を分析し、製造プロセスの品質を確認します。
✅ポリマー材料の特性評価
ポリマー表面の硬さや粘弾性を測定し、製品の機械的特性を最適化します。
✅生体分子の観察
DNAやタンパク質など、生体分子の構造を高解像度で観察し、医薬品開発に応用します。
✅表面修飾の検証
化学処理後のナノ構造や薄膜の均一性を調査し、表面改質プロセスの精度を向上させます。

※一部商社などの取扱い企業も含みます。