กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM: Atomic Force Microscope)คืออะไร?

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM: Atomic Force Microscope) เป็นอุปกรณ์ที่มีความแม่นยำสูงที่สามารถสังเกตและวัดพื้นผิวในระดับอะตอม AFM ใช้หัววัดที่มีความแหลมคมสแกนพื้นผิวของตัวอย่างโดยตรวจจับแรงระหว่างอะตอม เพื่อสร้างภาพ 3 มิติของรูปร่างและคุณลักษณะของพื้นผิว แตกต่างจากกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัลหรืออิเล็กตรอน AFM ไม่ต้องพึ่งพาการนำไฟฟ้าของตัวอย่าง ทำให้สามารถใช้งานได้กับวัสดุหลากหลายประเภท เช่น โลหะ เซมิคอนดักเตอร์ และฉนวน

คุณลักษณะสำคัญของ AFM ได้แก่ ความละเอียดในระดับนาโนเมตรและการใช้งานที่หลากหลาย นอกจากการสังเกตแล้วยังสามารถวิเคราะห์คุณสมบัติทางกลและทางเคมี รวมถึงการปรับเปลี่ยนพื้นผิว ทำให้ AFM เป็นเครื่องมือสำคัญในงานวิจัยเซมิคอนดักเตอร์ ชีวการแพทย์ และวิทยาศาสตร์วัสดุ

การใช้งานกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM: Atomic Force Microscope)

✅การประเมินพื้นผิวของเซมิคอนดักเตอร์
วิเคราะห์ความหยาบในระดับนาโนของพื้นผิวทรานซิสเตอร์หรือวงจร เพื่อยืนยันคุณภาพของกระบวนการผลิต
✅การวิเคราะห์คุณสมบัติของวัสดุโพลิเมอร์
วัดความแข็งและความยืดหยุ่นของพื้นผิวโพลิเมอร์ เพื่อปรับปรุงคุณสมบัติเชิงกลของผลิตภัณฑ์
✅การสังเกตโมเลกุลชีวภาพ
ตรวจสอบโครงสร้างของโมเลกุลชีวภาพ เช่น DNA และโปรตีน ด้วยความละเอียดสูงสำหรับการประยุกต์ใช้ทางเภสัชกรรม
✅การตรวจสอบการปรับเปลี่ยนพื้นผิว
ศึกษาความสม่ำเสมอของโครงสร้างนาโนหรือฟิล์มบางหลังจากการบำบัดทางเคมี เพื่อปรับปรุงความแม่นยำในกระบวนการปรับปรุงพื้นผิว

รวมข้อมูลเกี่ยวกับบริษัทการค้า